沃特世擴展Xevo MRT質譜儀功能，集成DESI XS離子源實現高速、高靈敏度質譜成像
發(fā)布時間:2025-10-23 閱讀次數：64次
美國馬薩諸塞州米爾福德市 - 沃特世公司（紐約證券交易所代碼：WAT）近日宣布，其Xevo? MRT質譜儀迎來重大升級——通過集成DESI XS離子源，為高分辨率、單細胞水平的快速成像帶來強大的新功能。這項突破將原位電離成像技術引入沃特世性能優(yōu)異的臺式質譜儀，使研究人員能夠直接從樣品表面快速、準確地可視化分子的空間分布，且?guī)缀鯚o需樣品前處理。
搭載DESI XS離子源的XEVO MRT質譜系統
該創(chuàng)新技術將支持研究人員進行直接、無標記的分子成像，實現高達100,000全寬半高（FWHM）分辨率的數據采集，掃描速度達100 Hz，質量精度可達500 ppb（十億分之一）。該系統解決方案可獲取高質譜分辨率與精細空間分辨率圖像，與沃特世常規(guī)高分辨質譜儀單次成像采集相比，該系統在 MS 模式下靈敏度提升至少 2 倍，在半靶向分析模式下靈敏度提升最高 5 倍，整體速度提升約 2.7 倍。同時，Xevo MRT 質譜儀的緊湊設計使實驗室無需額外空間即可獲得高性能成像能力。
高空間分辨率與高質譜分辨率成像質譜技術為復雜樣品中分子空間分布的可視化與分析開辟了新可能。該技術可同時提供定性與定量信息，精準定位組織或其他基質中的特定化合物——如藥物、代謝物或脂質。對于制藥與生物醫(yī)學研究而言，這意味著科學家可追蹤藥物在生物環(huán)境中的吸收、分布與代謝過程，為藥物研發(fā)、病理學及生物標志物發(fā)現研究提供支持。其他重要應用領域還包括法醫(yī)科學、食品與農業(yè)表面檢測以及化學材料直接分析。
通過將高質譜分辨率、高空間分辨率與可靠的質量準確度及速度相結合，這項擴展能力使科學家能夠更快、更自信地做出決策。無論是病理研究、生物標志物發(fā)現還是加速藥物開發(fā)，Xevo MRT質譜儀搭載DESI XS離子源，都能提供精準度、靈活性及簡化工作流程，助力科學家更高效清晰地解決復雜科研難題。
現有Xevo MRT質譜儀用戶可選購DESI XS離子源及質譜成像軟件作為擴展組件；新客戶可直接選購包含DESI XS離子源的Xevo MRT質譜儀套裝。
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自上世紀80年代進入中國以來，沃特世的規(guī)模與實力與日俱增，在中國大陸的上海、北京、廣州以及香港、臺灣地區(qū)均設有運營中心和實驗中心。憑借在中國市場的深遠布局及斐然成就，今天的中國已成為沃特世全球營收僅次于美國的第二大市場。
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